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上海貝丁漢工業(yè)自動化設(shè)備有限公司


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微位移測量激光干涉儀 角度擺動檢測干涉儀

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產(chǎn)品型號

品       牌

廠商性質(zhì)代理商

所  在  地上海市

聯(lián)系方式:李先生查看聯(lián)系方式

更新時間:2017-09-08 21:04:42瀏覽次數(shù):849次

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經(jīng)營模式:代理商

商鋪產(chǎn)品:19條

所在地區(qū):上海上海市

聯(lián)系人:李先生

產(chǎn)品簡介

真正意義上的雙頻激光干涉儀,兩個光束的頻差為640MHz。請用戶注意“激光干涉儀"和“雙頻激光干涉儀"概念的區(qū)別。德國耶拿爾公司是為數(shù)不多的雙頻激光干涉儀的制造商,*雙頻激光干涉儀精度更好、性能更穩(wěn)定

詳細介紹

 
產(chǎn)品名稱:微位移測量激光干涉儀 角度擺動檢測干涉儀
產(chǎn)品型號:ZLM800
產(chǎn)品產(chǎn)地:德國
制 造 商:德國耶拿爾測量技術(shù)有限公司
 
詳細介紹:

    ZLM800微位移測量激光干涉儀——雙頻激光干涉儀,主要用于微位移部件的測量,角度變化量的監(jiān)測,移動平臺運動情況的檢測,及光刻機幾何量的測量,數(shù)控機床幾何量的測量,zui多可實現(xiàn)六軸聯(lián)動。具有以下性能優(yōu)勢
l  真正意義上的雙頻激光干涉儀,兩個光束的頻差為640MHz。請用戶注意“激光干涉儀”和“雙頻激光干涉儀”概念的區(qū)別。德國耶拿爾公司是為數(shù)不多的雙頻激光干涉儀的制造商,*雙頻激光干涉儀精度更好、性能更穩(wěn)定。
l  全部部件皆在德國生產(chǎn)制造,絕非為了降低成本而在第三方國家進行部件加工。光學(xué)組件全部采用蔡司光學(xué)鏡,是世界上*一家將*的蔡司光學(xué)鏡用于激光干涉儀領(lǐng)域的產(chǎn)品制造商。
l   激光器壽命更長,可達20000小時,激光穩(wěn)頻精度高,一小時內(nèi)為±0.002ppm,在產(chǎn)品壽命內(nèi)可達±0.02ppm。
l  干涉鏡采用差分干涉原理,系統(tǒng)精度更高,可達±0.4ppm。
l  計算機輔助光路調(diào)整,調(diào)整結(jié)果更準確。
l  采樣頻率更快,zui高達1MHz,可在0.001Hz-1MHz之間進行選擇。
l  被測物體zui大速度16m/s(可選);采用高精度AE950 PCI數(shù)據(jù)處理器,分辨率達0.6nm(當移動速度為1m/s時,線性分辨率更可高達為0.1nm)。
l   無加速度限制;當光線微弱時,性能也十分穩(wěn)定。
l  信號延時<200ns;對電磁干擾不敏感。
l  對于多軸聯(lián)動的復(fù)雜光路測量和微位移測量,ZLM800型是理想的選擇。

技術(shù)參數(shù)
型號:ZLM800
使用高性能數(shù)據(jù)處理器AE950 PCI
He-Ne激光平均波長:
632.8 nm
激光穩(wěn)頻精度:
一小時2x10-9±0.002ppm
壽命內(nèi)2x10-8±0.02ppm
系統(tǒng)精度(0-40℃時):
±0.4ppm
光束直徑:
6mm可選3.2mm
激光管突發(fā)zui大輸出功率:
1mW (激光等級2)
每束光可測量的軸數(shù):
zui多6
線性測量距離:
40m,可擴展為120m
角度測量范圍:
± 15°20m軸線范圍
平面度測量范圍:
20m行程
直線度測量范圍:
± 5mm,2m10m行程,
選用角度干涉儀可測30m行程
垂直度測量范圍:
± 5mm,2m10m行程,
30m行程需用角度干涉儀
zui大速度:
4m/s,可選16m/s
80rad/s,角速度
zui大加速:
無限制
zui高采樣頻率:
內(nèi)部1MHz,外部40MHz
預(yù)熱時間:
10分鐘
精度/非線性:
±0.3nm (角隅反射鏡
±0.1nm (平面反射鏡
距離測量分辨率:
0.6nm (角隅反射鏡
0.3nm (平面反射鏡
0.1nm 可選
距離測量精度:
(20°±0.5°) 使用AUK
(20°±0.5°) 真空中時
 
±0.4ppm (μ/m)
±0.08 (±0.02)ppm (μ/m)
線性度測量分辨率:
0.6nm (角隅反射鏡
0.3nm (平面反射鏡
0.1nm 可選
線性度測量精度:
(20°±0.5°) 使用AUK
(20°±0.5°) 真空中時
 
±0.4ppm (μ/m)
±0.08 (±0.02)ppm (μ/m)
速度測量精度:
±0.5ppm實測值
角度測量分辨率:
0.015μrad (3x10-3 弧秒
角度測量精度:
±0.1ppm實測值
平面度測量分辨率:
0.015μrad (3x10-3 弧秒
平面度測量精度:
±0.2%實測值
±0.05 弧度/米運行距離
直線度測量分辨率:
36nm,10m行程
7.25nm,2m行程
直線度測量精度:
±0.5%實測值,2m行程
± 2.5%實測值,10m行程
垂直度測量分辨率:
36nm,10m行程
7.25nm,2m行程
垂直度測量精度:
±0.5%實測值2m,± 0.5弧秒*
±2.5%實測值10m,± 0.5弧秒*
數(shù)據(jù)接口:
積分信號
32 Bit (
實時時間
Dt » 20 ns
數(shù)據(jù)分析標準:
ISO230/VDI3441/VDI2617/NMTBA
工作環(huán)境:
溫度:15°C-30°C
濕度:<90%無冷凝
儲存環(huán)境:
溫度:10°C-40°C
濕度:<95%無冷凝

應(yīng)用案例
以下是為*設(shè)計的ZLM800雙頻激光干涉儀兩個應(yīng)用案例。在*個案例中,用兩個3軸角度干涉儀分別監(jiān)視兩個擺鏡的擺動,實時測試兩個擺鏡對應(yīng)量(俯仰、偏擺和位移)的差異情況。在第二個案例中,用一個3軸角度干涉儀來測試擺鏡的鏡面擺動情況,2個單軸位移干涉儀檢測一個兩軸位移平臺的運動情況。


 
以下是為國內(nèi)某研究所某項目設(shè)計的ZLM800測量系統(tǒng)。用戶預(yù)先把被測物體放置在密閉箱中,密閉箱留有觀察窗口。所需要測量的數(shù)據(jù)是被監(jiān)視目標Ⅰ、被監(jiān)視目標Ⅱ的X、Y向的角度變化量,以及這兩個目標在Z方向的相對變化量。


ZLM800部分光路圖示例和部件示意圖





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