主要用于航空、航天、信息、電子等領(lǐng)域，確定儀器低度表、電工產(chǎn)品、材料、零部件、設(shè)備等在低氣壓、高溫、低溫單項(xiàng)或同時(shí)作用下的環(huán)境適應(yīng)性與可靠性試驗(yàn)，并可同時(shí)對(duì)試件通電進(jìn)行電氣性能參數(shù)的測(cè)量。