近場掃描光學(xué)顯微鏡NSOM也習(xí)慣稱為掃描近場光學(xué)顯微鏡SNOM，是用于納米材料表征可獲得優(yōu)于光波長分辨率的手段。通常近場掃描光學(xué)顯微鏡與原子力顯微鏡AFM結(jié)合使用，因此近場掃描光學(xué)顯微鏡可以獲得材料光學(xué)與形貌相