| 品牌 | 其他品牌 | 價格區(qū)間 | 10萬-20萬 |
|---|---|---|---|
| 產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 電子,航天,汽車,電氣,綜合 |
冷熱溫度沖擊試驗箱常用于電子電器成品或零組件、汽車配件、自動化零部件、塑膠、金屬、光電、光伏及高分子材料等行業(yè)，測試其對冷溫、熱溫的反復抵抗力及產(chǎn)品處于熱脹冷縮產(chǎn)出的化學變化或物理傷害，可確認產(chǎn)品的質(zhì)量及改善產(chǎn)品的品質(zhì)。
冷熱溫度沖擊試驗箱參數(shù)可選擇如下：
實驗箱沖擊溫度：高溫 +60～150℃（固定）.低溫 A：(-10～ -40℃) B：(-10～ -55℃)D：( -10～ -65℃)（可選擇其中一個低溫配高溫）
高溫儲溫箱高溫范圍可達：+60 ~200℃.
低溫儲溫箱低溫范圍可達：-10℃~-75℃
高低溫轉(zhuǎn)換時間：≤10S
風門啟動時間：≤3S
高低溫恢復時間：3~5min（非線性空載下）
預冷區(qū)降溫速度： ≥2℃/min（非線性）
預熱區(qū)升溫速度： ≥3℃/min（非線性）
控制精度：溫度±0.2℃（指控制器設(shè)定值和控制器實測值之差）
溫度波動度：≤0.5℃（溫度波動度為中心點實測高溫度和低溫度之差的一半）
溫度均勻度：≤2.0℃（溫度均勻度為每次測試中實測高溫度和低溫度之差的算術(shù)平均值）
滿足以下標準:
GB/T5170.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法 溫度試驗設(shè)備
GB2424.1 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 高低溫試驗導則
GB/T2423.22-1989溫度變化試驗；
GB/T 2423.22-2002溫度變化
GB/T 2424.13-2002試驗方法溫度變化試驗導則
GJB 150.5A-2009 裝備實驗室環(huán)境試驗方法 第5部分：溫度沖擊試驗
GJB360.7-87溫度沖擊試驗；
GJB 360B-2009 電子及電氣元件試驗方法 方法107 溫度沖擊試驗
IEC68-2-14_試驗方法N_溫度變化
EIA 364-32熱沖擊（溫度循環(huán)）測試程序的電連接器和插座的環(huán)境影響評估
