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更新時間:2024-11-25 16:57:04瀏覽次數(shù):116次
聯(lián)系我時,請告知來自 食品機械設(shè)備網(wǎng)NanoXSpot微焦點測試儀用于對光斑尺寸 <100 µm 的 X 射線管進行質(zhì)量保證,根據(jù) prEN 12453-6、prEN 12453-7 評估焦點尺寸 <100 µm 和光斑形狀
歐洲計量創(chuàng)新與研究計劃項目開發(fā)了新的 NanoXSpot (NxS) 測量儀,具有線組、西門子星形和孔圖,用于測量小至 100 納米的聚焦光斑
計算機斷層掃描 (CT)可以根據(jù)從物體周圍不同角度拍攝的一系列 X 射線圖像重建物體的體積數(shù)據(jù)集,這項技術(shù)被廣泛用于醫(yī)學(xué)中的患者診斷。此外,它還被用于航空航天和電子等行業(yè)的無損檢測、缺陷與內(nèi)部結(jié)構(gòu)的評估以及產(chǎn)品尺寸的驗證。這些行業(yè)對檢測分辨力的要求小至納米級。
隨著電子設(shè)備的小型化變得越來越普遍,以及隨著新技術(shù)(如電動汽車)的出現(xiàn)和航空工業(yè)中輕質(zhì)化合物的使用,對 5微米或更小分辨力(大約人類頭發(fā)絲寬度的 1/10)的 CT 測量的需求日益增加。X 射線管的光斑尺寸直接影響到測量分辨力。但是,對于5微米以下的 X 射線管光斑尺寸,沒有國1際公1認的標準或測量方法。X 射線設(shè)備制造商采用自有的測量方法導(dǎo)致了不一致的結(jié)果。因此,研究人員正在開發(fā)基于可溯源表征的測量儀來確定光斑大小、形狀和位置的新方法,并將作為這些光斑測量的國1際公1認標準引入。
歐洲計量創(chuàng)新與研究計劃(EMPIR)項目《對光斑小至100納米的 X 射線管焦斑尺寸的測量 (NanoXSpot,18NRM07)》正在開發(fā)新的標準實踐,以比目前更高的準確度水平表征 X 射線焦斑。
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