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東莞市柳沁檢測儀器有限公司
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更新時(shí)間:2024-11-03 14:08:07瀏覽次數(shù):140次
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產(chǎn)品特點(diǎn): 上下移動(dòng)的溫度沖擊試驗(yàn)箱根據(jù)試驗(yàn)需求及測試標(biāo)準(zhǔn)分為三箱式和兩箱式,區(qū)別在于試驗(yàn)方式和內(nèi)部結(jié)構(gòu)不同。
上下移動(dòng)的溫度沖擊試驗(yàn)箱根據(jù)試驗(yàn)需求及測試標(biāo)準(zhǔn)分為三箱式和兩箱式,區(qū)別在于試驗(yàn)方式和內(nèi)部結(jié)構(gòu)不同。本箱用來測試復(fù)合材料及材料結(jié)構(gòu),在瞬間下經(jīng)及高溫及極低溫的連續(xù)環(huán)境下所能忍受的程度,即以在最短時(shí)間內(nèi)試驗(yàn)其因熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化或物理傷害。此設(shè)備所應(yīng)用的行業(yè)非常廣泛,基本上有關(guān)工業(yè)產(chǎn)品都有用到,涉及的行業(yè)數(shù)不勝數(shù)。
本設(shè)備適用的對(duì)象包括金屬、塑料、橡膠、電子 等材料,可作為其產(chǎn)品改進(jìn)的依據(jù)或參考。
上下移動(dòng)的溫度沖擊試驗(yàn)箱的試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)及執(zhí)行方法:
GB/T 10592-2008 高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件;
GB/T 2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A:低溫 (IEC 60068-2-1:2007, IDT);
GB/T 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B:高溫 (IEC 60068-2-2:2007, IDT);
GB/T 2423.22-2012 環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)N:溫度變化 (IEC 60068-2-14:2009, IDT);
GJB 150.3-86 設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法 第3部分 高溫試驗(yàn);
GJB/T 150.4-86 設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法 第4部分 低溫試驗(yàn);
GJB/T 150.5-86 設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法 第5部分 溫度沖擊試驗(yàn)。
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