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上海謹(jǐn)通儀器儀表有限公司
參 考 價 | 面議 |
產(chǎn)品型號HOTMOS-1000
品 牌
廠商性質(zhì)其他
所 在 地上海
聯(lián)系方式:何晶查看聯(lián)系方式
更新時間:2025-07-18 14:16:09瀏覽次數(shù):5次
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簡要描述:半導(dǎo)體微量光子檢測顯微鏡微光顯微鏡是捕獲半導(dǎo)體器件缺陷或失效點(diǎn)發(fā)射微量光子的一種無損檢測設(shè)備。在電激勵作用下,電子-空穴對或高能熱載子以光子的形式釋放出多余動能。根據(jù)此原理,利用高增益低噪聲的相機(jī)就能精確定位到缺陷位置。EMMI系統(tǒng)C主要適用于PN結(jié)漏電、氧化層崩潰、靜電放電破壞、閂鎖效應(yīng)、碰撞電離和雪崩擊穿等多種物理場景。
半導(dǎo)體微量光子檢測顯微鏡
半導(dǎo)體微量光子檢測顯微鏡
產(chǎn)品特征參數(shù)
軟件圖像處理功能
8寸高壓手動氣浮探針臺
紫外、可見光、紅外顯微光學(xué)系統(tǒng)
2倍、5倍、10倍、20倍與50倍紅外物鏡
400 -1000 nm 或900-1700 nm響應(yīng)波長
支持3000 V高壓偏置
相機(jī)與源表的一體化控制程序
應(yīng)用方向
GaN與SiC 基功率器件
的漏電“熱點(diǎn)"定位
GaN基LEDs與結(jié)型探測
器的漏電“熱點(diǎn)"定位
Si基MOSFET與IGBT等功
率器件的漏電失效“熱
點(diǎn)"定位
GaAs基激光器光分布與
漏電“熱點(diǎn)"定位
常規(guī)的器件的靜態(tài)電學(xué)
參數(shù)測試。
相關(guān)系列有關(guān)于芯片失效與缺陷檢測都可以聯(lián)系我司,可看樣機(jī)測試
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