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X熒光光譜儀的優(yōu)缺點及分類

閱讀：5發(fā)布時間：2025-7-16

　　X熒光光譜儀由激發(fā)源和檢測系統(tǒng)組成。射線管產生入射射線，激發(fā)樣品產生射線熒光，探測器檢測射線熒光。分析速度快。測定時間與測定精度有關，但通常很短。

X熒光光譜儀的優(yōu)缺點及分類

　　所有需要測定的元素都可以在10-300秒內確定。X射線熒光光譜與樣品的化學結合狀態(tài)無關，與固體、粉末、液晶、非晶材料的狀態(tài)無關。氣封也可以在容器內進行分析，但在高分辨率測量中會出現(xiàn)波長變化現(xiàn)象。
　　特別是在超軟X射線范圍內，這種效應更為顯著。波長變化用于測定化學勢。無損分析。不會引起化學狀態(tài)的變化和樣品飛揚的現(xiàn)象。同一樣品可重復測量，重現(xiàn)性好。
　　X射線熒光分析是一種物理分析方法，它也可以用來分析化學性質上屬于同一基團的元素。高精度分析。目前，含量已達到ppm水平?？捎糜跇悠分苽?、固體分析等。定量分析需要標準樣品。對輕元素的敏感度較低。易受元素相互干擾和疊加的影響。


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