飲料機(jī)械 果蔬機(jī)械 面食機(jī)械 糕點(diǎn)設(shè)備 烘焙設(shè)備 豆制品設(shè)備 乳制品設(shè)備 茶葉機(jī)械 制冷設(shè)備 油炸設(shè)備 膨化設(shè)備 糖果機(jī)械 調(diào)味品設(shè)備 薯類加工設(shè)備 釀酒設(shè)備
深圳市善時(shí)儀器有限公司
會(huì)員1.png)
深圳市善時(shí)儀器有限公司
暫無(wú)信息 |
閱讀：0發(fā)布時(shí)間：2025-7-6
鍍層測(cè)厚儀使用X射線激發(fā)各種物質(zhì)（如Mo，ag，mn）的特征X射線，然后測(cè)量釋放的特征X射線的能量來(lái)表征樣品，測(cè)量對(duì)標(biāo)準(zhǔn)板（或比較樣品）釋放的特征X射線的強(qiáng)度產(chǎn)生每種物質(zhì)的厚度，強(qiáng)度和厚度之間的關(guān)系在軟件背景中形成一條曲線。隨著各種物質(zhì)強(qiáng)度的增加，厚度值也隨之增加，但并非線性關(guān)系，通過(guò)標(biāo)準(zhǔn)樣本和軟件算法（算法有fp法和經(jīng)驗(yàn)系數(shù)法），得到了與實(shí)際對(duì)應(yīng)關(guān)系較為接近的曲線。
鍍層測(cè)厚儀已成為加工工業(yè)和表面工程質(zhì)量檢驗(yàn)的重要環(huán)節(jié)，是產(chǎn)品達(dá)到質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)的必要手段。為了制造產(chǎn)品，中國(guó)的出口商品和涉外工程對(duì)涂層的厚度有明確的要求。涂層材料厚度的測(cè)量研究方法問(wèn)題主要有兩個(gè)楔形切割法、光切法、電解法、厚度差測(cè)量法、稱重法、X射線熒光法、β射線電子背散射法、電容法、磁性特征測(cè)量法和渦流傳感器測(cè)量法等。這些方法的前五種都是破壞性檢測(cè)，比較復(fù)雜，速度慢，大多適合抽樣檢驗(yàn)。x射線和β射線法為非接觸式無(wú)損測(cè)量，測(cè)量范圍小。x射線法可以測(cè)量極薄涂層、雙層涂層和合金涂層。β射線法適用于原子序數(shù)大于3的涂層和基體的測(cè)量。電容法僅在測(cè)量薄導(dǎo)體的絕緣涂層厚度時(shí)使用。隨著技術(shù)的日益進(jìn)步，特別是近年來(lái)微型計(jì)算機(jī)技術(shù)的引入，涂層測(cè)厚儀的應(yīng)用是朝著小型化、智能化、多功能、高精度、實(shí)用化方向邁出的一步。測(cè)量系統(tǒng)分辨率達(dá)到了0.1微米，精度分析可以通過(guò)達(dá)到1％，有了很大的提高。它適用范圍廣，測(cè)量范圍寬，操作簡(jiǎn)單，價(jià)格低廉。涂層測(cè)厚儀廣泛應(yīng)用于工業(yè)和科學(xué)研究中。
使用過(guò)程中鍍層測(cè)厚儀時(shí)應(yīng)當(dāng)嚴(yán)格遵守的規(guī)定
a基體金屬特性
就磁性方法而言，標(biāo)準(zhǔn)件基材的磁性及表面粗糙度特性須與測(cè)試表面粗糙度的基材相若。
對(duì)于渦流法，標(biāo)準(zhǔn)薄板的基體金屬的電性能應(yīng)與試樣的基體金屬的電性能相似。
b基體金屬厚度
檢查基底金屬的厚度是否超過(guò)臨界厚度。如果沒(méi)有，可使用3.3中的方法之一進(jìn)行校準(zhǔn)。
c邊緣效應(yīng)
不應(yīng)在充分利用緊靠一個(gè)標(biāo)準(zhǔn)試件的突變處，如邊緣、洞和內(nèi)轉(zhuǎn)角等處進(jìn)行研究分析可以測(cè)量。
d曲率
不得在試件的曲面上進(jìn)行測(cè)量。
食品機(jī)械設(shè)備網(wǎng) 設(shè)計(jì)制作，未經(jīng)允許翻錄必究 .? ? ?
請(qǐng)輸入賬號(hào)
請(qǐng)輸入密碼
請(qǐng)輸驗(yàn)證碼