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深圳市善時儀器有限公司
閱讀:0發(fā)布時間:2025-7-6
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常規(guī)鍍層厚度分析儀的原理之對材料表面保護、裝飾形成的覆蓋層,比方說涂層、鍍層、敷層、貼層以及化學(xué)生成膜等,在有關(guān)國家與國際標(biāo)準(zhǔn)中稱為覆層。覆層厚度測量已經(jīng)成為加工工業(yè)還與歐表面工程質(zhì)量檢測的關(guān)鍵一環(huán),是產(chǎn)品達到優(yōu)等質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)的手段。為了讓產(chǎn)品國際化,我國出口商品與涉外項目當(dāng)中,對覆層厚度有了明確的要求。
常規(guī)鍍層厚度分析儀的原理之覆層厚度的測量方法主要有:楔切法,光截法,電解法,厚度差測量法,稱重法,X射線熒光法,β射線反向散射法,電容法、磁性測量法及渦流測量法等。
這些方法中前五種是有損檢測,測量手段繁瑣,速度慢,大多適合使用于抽樣檢驗。X射線與β射線法是無接觸無損測量,可是裝置復(fù)雜昂貴,測量范圍較小。因為有放射源,使用者一定要遵守射線防護規(guī)范。X射線法可以測量薄鍍層、雙鍍層以及合金鍍層。β射線法適合鍍層與底材原子序號大于三的鍍層測量。電容法僅在薄導(dǎo)電體的絕緣覆層測厚的時候采用。
隨著技術(shù)的日益進步,尤其是近年來引入微機技術(shù)之后,選擇磁性法與渦流法的測厚儀向微型、智能、多功能、高精度、實用化的方向進了一步。測量的分辨率已達零點一微米,精度可以達到百分之一,有了大幅度的提升。它運用范圍廣,量程寬、操作簡單并且價格低,是工業(yè)與科研使用廣泛的測厚儀器。選擇的是無損方法既不會破壞覆層也不會破壞基材,檢測速度快,可以讓大量的檢測工作經(jīng)濟地進行。
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