一、基體金屬的選擇
基體金屬的選擇于試件的測(cè)試是息息相關(guān)的，首先專(zhuān)業(yè)的鍍層測(cè)厚儀分有磁性方法和渦流方法，兩種方法對(duì)于鍍層測(cè)厚儀的基體金屬標(biāo)準(zhǔn)片都有不一樣的磁性和電性要求，必須要對(duì)號(hào)入座的進(jìn)行測(cè)量匹配，并且基體金屬的厚度對(duì)于我們的測(cè)量也有一定的影響。
二、測(cè)試時(shí)的環(huán)境和條件
鍍層測(cè)厚儀一的測(cè)試本身是非常方便的，它的出現(xiàn)極大的提高了我們對(duì)于產(chǎn)品測(cè)量的效率，但是我們?cè)跍y(cè)量的時(shí)候需要注意到測(cè)量的環(huán)境以及必要的測(cè)量條件，首先我們需要注意測(cè)量時(shí)周?chē)拇艌?chǎng)環(huán)境，磁場(chǎng)過(guò)高或不穩(wěn)定都會(huì)對(duì)我們的測(cè)量數(shù)據(jù)產(chǎn)生影響，其次潮濕的環(huán)境也是不利于我們的測(cè)量，而基體金屬標(biāo)準(zhǔn)片與試件本身的一些條件也會(huì)影響到我們的測(cè)量數(shù)據(jù)，例如鍍層測(cè)厚儀基體金屬片表層的粗糙程度等等。
三、測(cè)量時(shí)的一些其它影響因素
我們?cè)谶M(jìn)行測(cè)量的時(shí)候要注意到試件表面要保持清潔不能有異物遮擋，并且即便是可信賴(lài)的鍍層測(cè)厚儀在測(cè)量時(shí)也都容易受到一些突然變化的影響所以我們要避免在試件的曲面和邊緣進(jìn)行測(cè)量。
我們選擇到了一個(gè)優(yōu)秀的度量測(cè)厚儀并不意味著我們的測(cè)量數(shù)據(jù)就會(huì)一定的準(zhǔn)確，因?yàn)樵跍y(cè)量過(guò)程中總會(huì)有一些細(xì)微的影響因素需要我們?nèi)プ⒁?，只有處理好這些影響因素才會(huì)使我們的鍍層測(cè)厚儀能夠真正的發(fā)揮出其應(yīng)有的作用。
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