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CEM3000系列毫米級(jí)景深掃描電鏡無(wú)需占據(jù)大量空間來(lái)容納整個(gè)電鏡系統(tǒng),這使其甚至能夠出現(xiàn)在用戶日常工作的桌面上,在用戶手邊實(shí)時(shí)呈現(xiàn)所得結(jié)果。此外,該系列臺(tái)式電...
CEM3000系列臺(tái)式能譜掃描電子顯微鏡憑借其簡(jiǎn)便的操作系統(tǒng),讓復(fù)雜的掃描電鏡使用過(guò)程變得簡(jiǎn)單快捷。樣品一鍵裝入,自動(dòng)導(dǎo)航和一鍵出圖能力(自動(dòng)聚焦+自動(dòng)消像散+...
CEM3000系列桌面式能譜掃描電鏡操作系統(tǒng)簡(jiǎn)便,使用過(guò)程簡(jiǎn)單快捷。樣品一鍵裝入,自動(dòng)導(dǎo)航和一鍵出圖能力(自動(dòng)聚焦+自動(dòng)消像散+自動(dòng)亮度對(duì)比度)幫助用戶在短短幾...
國(guó)產(chǎn)chotest共聚焦顯微鏡VT6000系列以轉(zhuǎn)盤共聚焦光學(xué)系統(tǒng)為基礎(chǔ),結(jié)合高穩(wěn)定性結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)和3D重建算法,共同組成測(cè)量系統(tǒng),主要用于對(duì)各種精密器件及材料表面...
SuperViewW系列白光干涉3d表面形貌儀具有測(cè)量精度高、操作便捷、功能齊全、測(cè)量參數(shù)涵蓋面廣的優(yōu)點(diǎn),測(cè)量單個(gè)精細(xì)器件的過(guò)程用時(shí)短,確保了高款率檢測(cè)。白光干...
CEM3000國(guó)內(nèi)自研高分辨率掃描電鏡操作系統(tǒng)簡(jiǎn)便,使用過(guò)程簡(jiǎn)單快捷。樣品一鍵裝入,自動(dòng)導(dǎo)航和一鍵出圖能力(自動(dòng)聚焦+自動(dòng)消像散+自動(dòng)亮度對(duì)比度)幫助用戶在短短...
CEM3000系列chotest臺(tái)式鎢燈絲掃描電鏡在工業(yè)領(lǐng)域展現(xiàn)出廣泛的應(yīng)用價(jià)值,標(biāo)配有高性能二次電子探頭和多象限背散射探頭、并可選配能譜儀、低真空系統(tǒng),能滿足...
CEM3000系列桌面式多功能實(shí)時(shí)能譜掃描電鏡高易用性快速成像、一鍵成片,無(wú)需過(guò)多人工調(diào)節(jié)。超高分辨率優(yōu)于4nm(SE),優(yōu)于8nm(BSE)@20kV,超大景...
NS系列探針式薄膜厚度臺(tái)階儀廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體、光伏、MEMS、光學(xué)加工等領(lǐng)域。通過(guò)2μm金剛石探針與LVDC傳感器的協(xié)同工作,結(jié)合亞埃級(jí)分辨率(5 Å...
CEM3000系列納米級(jí)成像高分辨掃描電鏡操作系統(tǒng)簡(jiǎn)便,使用過(guò)程簡(jiǎn)單快捷。樣品一鍵裝入,自動(dòng)導(dǎo)航和一鍵出圖能力(自動(dòng)聚焦+自動(dòng)消像散+自動(dòng)亮度對(duì)比度)幫助用戶在...
NS系列薄膜臺(tái)階測(cè)厚儀采用了線性可變差動(dòng)電容傳感器LVDC,具備超微力調(diào)節(jié)的能力和亞埃級(jí)的分辨率,同時(shí),其集成了超低噪聲信號(hào)采集、超精細(xì)運(yùn)動(dòng)控制、標(biāo)定算法等核心...
CEM3000系列中圖儀器高分辨率掃描電鏡操作系統(tǒng)簡(jiǎn)便,使用過(guò)程簡(jiǎn)單快捷。樣品一鍵裝入,自動(dòng)導(dǎo)航和一鍵出圖能力(自動(dòng)聚焦+自動(dòng)消像散+自動(dòng)亮度對(duì)比度)幫助用戶在...
CEM3000簡(jiǎn)單易操作超高分辨率掃描電鏡高易用性快速成像、一鍵成片,無(wú)需過(guò)多人工調(diào)節(jié)。超高分辨率優(yōu)于4nm(SE),優(yōu)于8nm(BSE)@20kV,超大景深毫...
NS系列半導(dǎo)體臺(tái)階儀采用了線性可變差動(dòng)電容傳感器LVDC,具備超微力調(diào)節(jié)的能力和亞埃級(jí)的分辨率,同時(shí),其集成了超低噪聲信號(hào)采集、超精細(xì)運(yùn)動(dòng)控制、標(biāo)定算法等核心技...
NS系列半導(dǎo)體臺(tái)階高度測(cè)量?jī)x器電動(dòng)X/Y平臺(tái)(150mm×150mm)搭配8英寸晶圓載物臺(tái),適配半導(dǎo)體晶圓、光伏基板等大尺寸樣品??删珳?zhǔn)測(cè)量臺(tái)階高度(...
VT6000高精度共聚焦顯微鏡基于共聚焦技術(shù),結(jié)合精密Z向掃描與智能3D建模算法,可實(shí)現(xiàn)對(duì)納米至微米級(jí)表面形貌的高精度測(cè)量,覆蓋光滑、粗糙、低反射至高反射等多樣...
CEM3000實(shí)驗(yàn)室臺(tái)式掃描電鏡無(wú)需占據(jù)大量空間來(lái)容納整個(gè)電鏡系統(tǒng),這使其甚至能夠出現(xiàn)在用戶日常工作的桌面上,在用戶手邊實(shí)時(shí)呈現(xiàn)所得結(jié)果。此外,該系列臺(tái)式電鏡也...
VT6000多功能共聚焦顯微鏡主要應(yīng)用于半導(dǎo)體、光學(xué)膜材、顯示行業(yè)、超精密加工等諸多領(lǐng)域中的微觀形貌和輪廓尺寸檢測(cè)中,其次是對(duì)表面粗糙度、面積、體積等參數(shù)的檢測(cè)...
SuperViewW白光干涉光學(xué)膜厚測(cè)量?jī)x基于白光干涉原理,以3D非接觸方式,測(cè)量分析樣品表面形貌的關(guān)鍵參數(shù)和尺寸。
中圖儀器CEM3000系列實(shí)驗(yàn)室桌面型掃描電鏡無(wú)需占據(jù)大量空間來(lái)容納整個(gè)電鏡系統(tǒng),這使其甚至能夠出現(xiàn)在用戶日常工作的桌面上,在用戶手邊實(shí)時(shí)呈現(xiàn)所得結(jié)果。此外,該...
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