概述：EN-3020B型分立器件測(cè)試儀是用于二極管、IGBT和MOSFET的靜態(tài)參數(shù)測(cè)試。系統(tǒng)的測(cè)試原理符合相應(yīng)的國家標(biāo)準(zhǔn)、軍標(biāo)，系統(tǒng)為獨(dú)立式單元，封閉式結(jié)構(gòu)，具有升級(jí)擴(kuò)展?jié)撃堋?br />系統(tǒng)特點(diǎn)：
功率源 3000V/200A
測(cè)試系統(tǒng)整體采用計(jì)算機(jī)操控
測(cè)試數(shù)據(jù)由計(jì)算機(jī)記錄，并進(jìn)行 Excel 處理
采用脈沖法測(cè)試，脈寬為國軍標(biāo)
自動(dòng)化程度高（可按設(shè)定的程序自動(dòng)測(cè)試）
測(cè)試靈活（*應(yīng)對(duì)器件及多單元模

EN-3020B分立器件測(cè)試儀

概述：EN-3020B型分立器件測(cè)試儀是用于二極管、IGBT和MOSFET的靜態(tài)參數(shù)測(cè)試。系統(tǒng)的測(cè)試原理符合相應(yīng)的國家標(biāo)準(zhǔn)、軍標(biāo)，系統(tǒng)為獨(dú)立式單元，封閉式結(jié)構(gòu)，具有升級(jí)擴(kuò)展?jié)撃堋?/span>

系統(tǒng)特點(diǎn)：

功率源 3000V/200A

測(cè)試系統(tǒng)整體采用計(jì)算機(jī)操控

測(cè)試數(shù)據(jù)由計(jì)算機(jī)記錄，并進(jìn)行 Excel 處理

采用脈沖法測(cè)試，脈寬為國軍標(biāo)

自動(dòng)化程度高（可按設(shè)定的程序自動(dòng)測(cè)試）

測(cè)試靈活（*應(yīng)對(duì)器件及多單元模塊測(cè)試）

Labview 平臺(tái)開發(fā)，數(shù)據(jù)編輯處理功能強(qiáng)，菜單式，模塊化，人機(jī)友好設(shè)備操作簡(jiǎn)單、性能穩(wěn)定非常適合電氣，電子類廠商, 研究所做 IQC 來料檢驗(yàn)、器件選型，失效分析以及學(xué)校教學(xué)和軌道機(jī)車地鐵高鐵檢測(cè)使用。

●規(guī)格環(huán)境

尺寸：250×570×280（mm）

質(zhì)量：15kg

環(huán)境溫度：15~40℃

工作電壓；AC220V±10%（無嚴(yán)重諧波）

電網(wǎng)頻率：50Hz

通信接口；USB RS232

功能單元	參數(shù)指標(biāo)
基本參數(shù)	功率源：3000V/200A
柵極-發(fā)射極漏電流	IGES: 0.1-10uA±2%±0.01uA
IGES	集電極電壓VCE: 0V
	柵極電壓 Vge: 5-40V±3%±0.1V
	集電極電壓VCES: 200-3000V±2%±10V
集電極-發(fā)射極電壓	集電極電流ICES: 0.1-1mA±3%±0.01mA
	柵極電壓 Vge: 0V
集電極-發(fā)射極飽和	VCESat:0.1-5V±2%±0.01V
電壓VCESat	柵極電壓Vge: ±15V±2%±0.2V
	集電極電流ICE: 10-100A±2%±1A
集電極-發(fā)射極截止	集電極電壓VCE: 200-3000V±3%
	集電極電流ICES: 0.1-1mA±3%±0.01mA
電流ICES
	柵極電壓VGE: 0V
柵極-發(fā)射極閾值電	VGEth: 1-10V±2%±0.1V
壓	Vce=15V
二極管壓降測(cè)試	VF: 0.1-5V±2%±0.01V
	IF:5-100A±2%±1A
	Vge: 0V
反向擊穿BVR	BVR：200-3000V±2%±10V
反向漏電流IR	IR：0.1-10mA±3%±0.01mA
導(dǎo)通電阻RDS（on）	1-10mΩ±2%±0.1 mΩ
	10-50mΩ±2%±0.5 mΩ