安科瑞 鮑靜君

因?yàn)榈蜏貛缀鯇λ械漠a(chǎn)品材料都有不利的影響。對于暴露于低溫環(huán)境的產(chǎn)品或裝備，由于低溫會改變其組成材料的物理特性，因此可能會對其工作性能造成暫時(shí)損害。

低溫試驗(yàn)*于用確定元器件、設(shè)備或其他產(chǎn)品在低溫環(huán)境下使用、運(yùn)輸或貯存的能力。

方法標(biāo)準(zhǔn)：

●GB/T 2423.1《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)A：低溫》

●IEC 60068-2-1《Environmental testing-Part2-1:Tests-Test A：Cold》

試驗(yàn)?zāi)芰Ψ秶?/span>

溫度范圍: -50℃～+200℃

溫度均勻度: ≤2℃

濕度范圍: 0%～*R.H.

濕度誤差: +2/-3%R.H.

樣品室尺寸：W50×D60×H75(cm)

應(yīng)用領(lǐng)域：

信息技術(shù)產(chǎn)品.電子電氣產(chǎn)品.

汽車電子產(chǎn)品.電動玩具產(chǎn)品.