托普云農(nóng)研發(fā)生產(chǎn)的植物冠層分析儀，它可測量葉面積指數(shù)、葉片平均傾角、散射輻射透光率、不同太陽高度角下的直射輻射透過率、不同太陽高度下的消光系數(shù)、葉面積密度的方位分布、冠層內(nèi)外的光合有效輻射等。廣泛應用于作物、植物群體冠層受光狀況的測量分析及農(nóng)業(yè)科研工作。
   任何物質(zhì)都具有發(fā)射、吸收及反射電磁波的特性，這是光譜信息檢測的基本原理。通過測量每種物質(zhì)內(nèi)部成分相應的敏感波段光譜輻射的吸收、發(fā)送或反射特性，間接確定該物質(zhì)的特性或組成成分。在實際應用時，僅需要選擇某些特定波段來識別被選定物質(zhì)的特性。利用窄帶過濾器來選擇可見光和近紅外(NIR) 區(qū)電磁波譜的某些波段。此波段區(qū)域可以用于量化各種脅迫導致的植物冠層發(fā)射率差異。400-900納米的可見/近紅外波段對探測和評估植物葉片病害的嚴重性十分有用。近紅外區(qū)的長波波段可以用于估計植物的生理參數(shù)與生物化學成份等信息。
   植物冠層分析儀采用冠層孔隙率與冠層結構相關的原理。它是根據(jù)光線穿過介質(zhì)減弱的比爾定律，在對植物冠層定義了一系列假設前提的條件下，采用半理論半經(jīng)驗的公式，通過冠層孔隙的測定，計算出冠層結構參數(shù)。這是目前世界上各種冠層儀都是采用的原理，在上述原理下，植物冠層分析儀采用的是對冠層下測量冠層孔隙率方法，該方法是各類方法中精確和省力、省時、快捷方便的方法。
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