D30 低本底單路放射性檢測(cè)儀

D30高精度放射性檢測(cè)儀就弱放射性樣品進(jìn)行測(cè)量與分析，被測(cè)樣品可以是電沉積樣品，也可以直接鋪樣。所采用的分析儀器探頭靈敏區(qū)為f30mm金硅面壘半導(dǎo)體探測(cè)器，抗干擾屏蔽，本底低，功耗小。廣泛服務(wù)于地質(zhì)勘測(cè)、地質(zhì)調(diào)查、醫(yī)院、防疫站、環(huán)境監(jiān)測(cè)站、工廠的水質(zhì)、食品等檢驗(yàn)其樣品的總a放射性活度，弱放射性測(cè)量?jī)x主要技術(shù)功能：      

l         探測(cè)器：金硅面壘f30 mm，

l         儀器本底：≤5cph

l         探測(cè)效率：≥36%（2π,²³⁹Pu源）

l         計(jì)數(shù)容量：99999999

l         定時(shí)測(cè)量：定時(shí)時(shí)間在1—9999min內(nèi)可選擇設(shè)置

l         測(cè)量范圍: 5*10^-4Bq/kg--5*10⁶Bq/kg

l         靈敏度：優(yōu)于5•10^-4cpm/Bq/kg

l         穩(wěn)定性：≤5%

l         準(zhǔn)確性：≤±5％

l         功耗：: ≤200mW ；≤600mW

l         使用條件：溫度 -5℃?50℃；濕度≤95%（40℃）

l         供電電源：6v蓄電池，充電一次可工作12小時(shí)